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X線

X線とは電離放射線の一種で、波長が1pm ~ 10nmと非常に短い電磁波で、物質を透過する性質があります。1895年に世界で初めてドイツのヴィルヘルム・レントゲン博士が発見した直後から医療・農業・工業用として利用法が研究され有効利用されてきました。 工業分野ではエネルギーが強く物質を透過する能力が高いことから、古くからγ線と共に放射線透過試験(RT:Radiographic TestingあるいはRadiographic Technique)に用いられてきました。 放射線は物質を透過しやすく、また物質の比重によって透過の度合いが異なる性質があります。この性質を利用して、検査の対象となる物質を透過した放射線を写真用フィルムや蛍光板で可視化して得られた「影絵」を観察して、物質内部の欠陥や構造を観察するのが放射線透過試験です。 内在するきずの二次元的な形、大きさ、分布、種類などがわかりやすいのが特長で、一旦熱を掛けて溶融した金属中のブローホール(溶融中に発生した気泡がほぼ球状の空洞として残留したもの)やスラグなど異物の巻込み、介在物、溶接における溶込み不良などのきずが、放射線の透過する方向に対してきずの厚さと健全部の厚さに差がある場合に比較的容易に検出できます。しかし、割れのような面状きずに対しては放射線の透過する方向と平行な場合に透過量の差が非常に少なくなり、一般に検出は困難であると言われています。

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